Cyfrowy przyrząd do pomiaru grubości warstwy TE 1250-0.1 F

Name: Cyfrowy przyrząd do pomiaru grubości warstwy TE 1250-0.1 F
Brand: SAUTER
SKU: 5770040001
Availability: OutOfStock

Marka: SAUTER Model: 26807

Wszystko o produkcie

Opis

Specyfikacja

Recenzje 0

Pytania0

Нет в наличии

0,0 грн.

ferromagnetyczny materiał bazowy:Tak

Jednostka opakowania:1

Konstrukcja:Materiał podstawy ferromagnetyczny

Metal nieżelazny:Nie

Min./maks. grubość warstwy zakresu pomiarowego:0-1250 µm

Dostawa

Płatność

Cyfrowy przyrząd do pomiaru grubości warstwy TE 1250-0.1 F

0,0 грн.

Opis

TC przyrząd do pomiaru grubości warstwy

Do szybkiego i nieniszczącego pomiaru grubości warstwy powłok na materiałach ferromagnetycznych i metalach nieżelaznych
Ze sondą zewnętrzną (TE)
Małe, poręczne urządzenie
Łatwo czytelny wyświetlacz LCD
Interfejs RS-232C
Zasada pomiaru
Model TE-F do pomiaru warstw niemagnetycznych na ferromagnetycznej bazie materiału (stal/żelazo)
Model TE-N do pomiaru warstw nieprzewodzących (warstwa tlenku anodowego, powłoka malowana itp.) na metalach nieżelaznych
Model TE-FN kombinacja obu wymienionych zasad pomiaru
Zakres pomiaru 0 do 1250 µm
Rozdzielczość < 100 µm = 0,1 µm / > 100 µm = 1 µm
Minimalna grubość materiału bazowego 0,3 mm
Najmniejsza powierzchnia pomiaru O 6 mm
Najmniejszy promień krzywizny: F = 1,5 mm wypukły, F = 25 mm wklęsły, N = 3 mm wypukły, N = 50 mm wklęsły
Dokładność ± 4 % wartości mierzonej (standard)
± 1% wartości mierzonej (kalibracja dwupunktowa)
Zasilanie 4 x LR3 Micro, AAA
Masa 81 g
Wymiary D x S x W, 131 x 65 x 28 mm
Dostarczane w pudełku transportowym z płytką punktu zerowego, foliami dystansowymi, 4 bateriami LR3 nr 5480794003 i instrukcją obsługi